Тестер памяти нового поколения для устройств памяти с высокой пропускной способностью

Компания Teradyne, Inc. выпустила Magnum 7H, тестер памяти нового поколения, предназначенный для удовлетворения строгих требований тестирования устройств памяти с высокой пропускной способностью (HBM), интегрированных с графическими процессорами и ускорителями в высокопроизводительных серверах с генеративным искусственным интеллектом. Тестер разработан для обеспечения высокого параллелизма, высокой скорости и высокой точности тестирования многоуровневых кристаллов HBM в масштабе.

«Мы очень рады представить Magnum 7H, революционный тестер памяти, который устанавливает новый стандарт тестирования устройств HBM», — сказал Янг Ким, президент подразделения тестирования памяти компании Teradyne. «Эта инновация представляет собой важную веху в нашем стремлении развивать технологию тестирования памяти и предоставлять тестер, который не только поддерживает сегодняшние устройства, но и готов к будущему для устройств завтрашнего дня».

Устройство представляет собой передовой тестер памяти, который поддерживает широкий спектр версий HBM, включая HBM2E, HBM3, HBM3E, HBM4 и HBM4E. Он обеспечивает всестороннее покрытие испытаний, от тестирования пластины на базовом кристалле до тестирования ядра памяти и прогрева, обеспечивая качество и надежность устройств HBM. Кроме того, он поддерживает тестирование предварительно разделенных устройств HBM на уровне Known-Good-Stack-Die (KGSD) или Chip-on-Wafer с обычными зондами и платами зондов, а также пост-разделенных HBM с новыми зондами/манипуляторами без кристалла для улучшения качества устройства.

Teradyne Magnum 7H обеспечивает:

Улучшенное качество устройства: превосходное время отклика DPS обеспечивает более высокую производительность устройства.
Всестороннее тестирование памяти и логики: Magnum 7H идеально подходит для тестирования стеков HBM, которые содержат как кристаллы логической основы, так и кристаллы DRAM. Он обеспечивает высокоскоростное тестирование памяти с помощью гибкого алгоритмического генератора последовательностей (APG) и логическое тестирование с помощью нашей опции логической векторной памяти (LVM). Функция потоковой передачи списка отказов (FLS) обеспечивает высокоскоростной захват ошибок как при тестировании памяти, так и при логическом тестировании.
Высокая производительность: высокоскоростное тестирование современных устройств HBM3/3E и HBM4/4E следующего поколения со скоростью до 4,5 Гбит/с.
Высокий параллелизм: Magnum 7H необходим для снижения общей стоимости тестирования для HBM, он может быть сконфигурирован для установки до 9 216 цифровых контактов и 2 560 контактов питания, что обеспечивает превосходную эффективность приземления на пробнике и приводит к увеличению производительности в 1,6 раза в условиях массового производства.

Растущие требования к более высокой производительности и эффективности в приложениях искусственного интеллекта и облачной инфраструктуры стимулируют спрос на HBM. Teradyne Magnum 7H — это тестер памяти нового поколения, разработанный для тестирования современных и будущих устройств HBM с высокой параллельностью, скоростью и точностью на протяжении всего производственного процесса.