Новые высокоскоростные фотореле повышают эффективность тестирования полупроводников

Toshiba Electronics Europe GmbH выпустила два новых фотореле, которые обеспечивают заметные улучшения для тестирования полупроводников. Фотореле TLP3414S и TLP3431S обеспечивают высокоскоростное время включения до 62% короче, чем их предшественники, без потери производительности. Они также поставляются в компактном корпусе, который на 20% меньше, чем раньше, что экономит место на печатной плате.

Эти характеристики делают устройства идеальными для применения в контактной электронике в тестерах полупроводников, которые измеряют тестируемое устройство с высокой точностью и скоростью при переключении сигналов.

Фотореле обеспечивают высокоэффективную оптическую связь благодаря улучшению характеристик ИК-светодиодов и оптимизации конструкции фотодиодных матриц. Это обеспечивает высокоскоростное время включения до 150 мкс. По сравнению с предыдущими моделями время включения TLP3414S на 50% короче, а время включения TLP3431S примерно на 62% короче, что представляет собой заметное улучшение производительности.

Более быстрое время включения было достигнуто без ущерба для возможностей устройства по затуханию сигнала. Сопротивление в состоянии ВКЛ для TLP3414S составляет максимум 3 Ом, а для TLP3431S — максимум 1,2 Ом. Выходная емкость обычно составляет 6,5 пФ для обеих моделей, что имеет решающее значение для снижения утечки высокочастотного сигнала, когда выход выключен. Номинальное напряжение выходной клеммы в состоянии ВЫКЛ и номинальный ток в состоянии ВКЛ для TLP3414S составляют 40 В/250 мА, а для TLP3431S — 20 В/450 мА.

TLP3414S и TLP3431S используют новейший корпус S-VSON4T компании, размеры которого составляют всего 1,45 мм × 2 мм × 1,3 мм. Это уменьшает площадь монтажа примерно на 20% по сравнению с предыдущими корпусами и способствует миниатюризации оборудования.